Microscópio Eletrônico de varredura Phenom Feico LAMULT

Microscópio Eletrônico de varredura (MEV) Phenom-FEI

Microscópio Eletrônico de varredura (MEV) Phenom-FEI

Introdução

Microscópio Eletrônico de varredura (MEV) Phenom-FEI

Responsáveis

Localização

Instituto de Física "Gleb Wataghin" (IFGW)
Laboratório Multiusuários - LAMULT

Contato

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Descrição

O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) Phenom-FEI permite a obtenção de imagens de alta resolução, através de um sistema de fácil e rápida instalação de grande variedade de amostras com ampliação da ordem de 24.000x. O sistema de baixo vácuo utilizado disponibiliza as amostras para as análises em aproximadamente 50 s.