Microscópio Eletrônico de varredura Phenom Feico
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Microscópio Eletrônico de varredura (MEV) Phenom-FEI
Introdução
Microscópio Eletrônico de varredura (MEV) Phenom-FEI
Responsáveis
- Coordenador do Laboratório Multiusuários - LAMULT - IFGW
- Supervisor do Laboratório Multiusuários - LAMULT - IFGW
Localização
Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW)
Laboratório Multiusuários - LAMULT
Contato
Descrição
O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) Phenom-FEI permite a obtenção de imagens de alta resolução, através de um sistema de fácil e rápida instalação de grande variedade de amostras com ampliação da ordem de 24.000x. O sistema de baixo vácuo utilizado disponibiliza as amostras para as análises em aproximadamente 50 s.
- Consultar as regras básicas de utilização do LAMULT
- Solicitar agendamento no site Reserva de Equipamentos do IFGW, no dia/horário pretendido.
- Mais informações (Como usar, documentação, treinamentos) consulte aqui.