Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf LAMULT

Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf

Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf

Introdução

Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf

Responsáveis

Localização

Instituto de Física "Gleb Wataghin" (IFGW)
Laboratório Multiusuários - LAMULT

Contato

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Descrição

A microscopia de força atômica (AFM) permite a análise de propriedades superficiais dos materiais com resolução atômica, sendo uma das técnicas da chamada microscopia por varredura com ponta de prova (SPM). A sonda interage com a superfície da amostra e uma cerâmica piezoelétrica usada como “scanner” acompanha o movimento. As diversas configurações possíveis para o equipamento permite a medição de forças mecânicas (topografia) e elétricas (fase).