Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf
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Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf
Introdução
Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf
Responsáveis
- Coordenador do Laboratório Multiusuários - LAMULT - IFGW
- Supervisor do Laboratório Multiusuários - LAMULT - IFGW
Localização
Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW)
Laboratório Multiusuários - LAMULT
Contato
Descrição
A microscopia de força atômica (AFM) permite a análise de propriedades superficiais dos materiais com resolução atômica, sendo uma das técnicas da chamada microscopia por varredura com ponta de prova (SPM). A sonda interage com a superfície da amostra e uma cerâmica piezoelétrica usada como “scanner” acompanha o movimento. As diversas configurações possíveis para o equipamento permite a medição de forças mecânicas (topografia) e elétricas (fase).
- Consultar as regras básicas de utilização do LAMULT
- Solicitar agendamento no site Reserva de Equipamentos do IFGW, no dia/horário pretendido.
- Mais informações (Como usar, documentação, treinamentos) consulte aqui.