- Home
-
A Instituição
- Graduação
- Pós-Graduação
-
Pesquisa
- Extensão
-
Serviços
-
Laboratório Multiusuários
- Regras para utilização
- Sistema de Litografia a Laser µPG 101 Heildelberg Instruments
- Fresadora EGX350 Roland
- Detector de fuga Varian MR15
- Sistema de medida de Efeito Hall ECOPIA HMS-3000
- Espectrômetro Raman XploRA Horiba
- Microsoldadora West Bond 747677E
- Serra de precisão com fio de diamante WELL 3242
- Espectrômetro infravermelho Jasco 6100
- Difratômetro de Raios-X D8 Advance Bruker
- Microscópio de Força Atômica (AFM) EasyScan 2 Nanosurf
- Microscópio Eletrônico de varredura Phenom Feico
- Perfilômetro/Rugosímetro Dektak 150 Veeco
-
Equipamentos Multiusuários
- Espectrômetro de imagem (iHR550)
- Difratômetro de Raios-X – D2 Phaser Bruker
- Laser Ablation
- Cluster Planck
- Microscópio Agilent 5500
- Microscópio Nikon TE-2000U
- Cluster Feynman
- Microscópio de Varredura por Tunelamento PanScan FLOW
- Cluster Computacional de Alto Desempenho - CCAD
- Sistema de Deposição de Alumínio por feixe de elétrons em sistema de ultra-alto vácuo
- Refrigerador de Diluição
- Analisador de Distribuição de Tamanho de Partículas - Horiba SZ-100Z
- Magnetômetro de Terceira Geração MPMS SQUID 7.0 Tesla (em breve)
- Microscópio Confocal Upright Zeiss LSM780-NLO
-
Equipamentos de Acesso Controlado
- Espectrômetro T64000
- Câmara Andor iXon X3 de alta sensibilidade
- Estação de pontas SemiProbe
- Quantum Design PPMS – Physical Property Measurement System
- Three ultrafast OPAs covering the range from 300 nm to 1600 nm
- Amptek, XR100-SDD (Silicon Drift Detector)
- Amptek, Mini-X, alvo Ag (Raio-X em miniatura)
- Leitora TLD - Harshaw TLD/ 3500
- CR (Computed Radiography) - Air Techniques / Scan-X Duo
- Spectrum Techniques/Spectech UCS-20 (Analisador Multicanal)
- Radiation Sensors/ 6S6P1.5VDC2 (Cintilador)
- Raio-X Médico - Marca VMI, modelo Aquila300Plus
- Raio-X Odontológico - Marca DabiAtalante, modelo Spectro-70X
- PPMS - Physical Property Measurement System - 9T
- Microscópio óptico Zeiss Axioplan 2
- Microscópio óptico LEICA RBE
- Forno tubular para tratamentos térmicos
- Software termocronologia por traços de fissão em apatita
- Bruker WDX-RF S8Tiger Series 1
- Espectrômetro Bruker Elexsys E 500
- Espectrômetro Redstone para Ressonância Magnética Nuclear
- PPMS - Physical Property Measurement System - 14T
- Amplified Yb fiber-based laser system operating at 200 kHz
- MPMS - Magnetic Property Measurement System - 7T (2K a 325K)
- MPMS - Magnetic Property Measurement System - 7T (2K a 400K)
- VSM - Vibrating Sample Magnetometer 7400
- VNA - Vector Network Analyzer - E8362C
- Amplified Ti:sapphire laser system operating 1 kHz and 800 nm
- Femtosecond OPA covering the range from 400 nm to 2600 nm
- Agilent 8164B Wavemeter
- HP Analisador de perdas Óticas E5574A
- Analisador de espectro ótico Yokogawa AQ6375
- Analisador de espectro ótico Yokogawa AQ6373
-
Serviços Oferecidos
- Análise de amostras por espectroscopia de fluorescência de raios-X (XRF)
- Descaracterização e Descarte de cabeçotes de equipamentos de Raios-X
- Uso de fontes radioativas seladas e/ou uso de fontes de radiação ionizante sob supervisão
- Cursos e Treinamentos em Proteção Radiológica
- Consultoria em Proteção Radiológica
- Aquisição de imagens radiográficas bidimensionais
- Dosimetria Termoluminescente (TLD)
- Espectroscopia Gama
-
Laboratório Multiusuários
- Biblioteca
- Pessoas
PessoasCorpo docente do IFGW
-
Página Principal
-
Pessoas
-
Corpo Docente
- Prof. Dr. Abner de Siervo
Prof. Dr. Abner de Siervo
- Posição:
- DFA - GFS - Laboratório de Física de Superfícies
-
- +55 19 3521 5370
- https://sites.ifi.unicamp.br/asiervo