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Equipamentos Multiusuários
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- Microscópio de Varredura por Tunelamento PanScan FLOW
- Cluster Computacional de Alto Desempenho - CCAD
- Sistema de Deposição de Alumínio por feixe de elétrons em sistema de ultra-alto vácuo
- Refrigerador de Diluição
- Analisador de Distribuição de Tamanho de Partículas - Horiba SZ-100Z
- Magnetômetro de Terceira Geração MPMS SQUID 7.0 Tesla
- Microscópio Confocal Upright Zeiss LSM780-NLO
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Equipamentos de Acesso Controlado
- Espectrômetro T64000
- Câmara Andor iXon X3 de alta sensibilidade
- Estação de pontas SemiProbe
- Quantum Design PPMS – Physical Property Measurement System
- Three ultrafast OPAs covering the range from 300 nm to 1600 nm
- Amptek, XR100-SDD (Silicon Drift Detector)
- Amptek, Mini-X, alvo Ag (Raio-X em miniatura)
- Leitora TLD - Harshaw TLD/ 3500
- CR (Computed Radiography) - Air Techniques / Scan-X Duo
- Spectrum Techniques/Spectech UCS-20 (Analisador Multicanal)
- Radiation Sensors/ 6S6P1.5VDC2 (Cintilador)
- Raio-X Médico - Marca VMI, modelo Aquila300Plus
- Raio-X Odontológico - Marca DabiAtalante, modelo Spectro-70X
- PPMS - Physical Property Measurement System - 9T
- Microscópio óptico Zeiss Axioplan 2
- Microscópio óptico LEICA RBE
- Forno tubular para tratamentos térmicos
- Software termocronologia por traços de fissão em apatita
- Bruker WDX-RF S8Tiger Series 1
- Espectrômetro Bruker Elexsys E 500
- Espectrômetro Redstone para Ressonância Magnética Nuclear
- PPMS - Physical Property Measurement System - 14T
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- MPMS - Magnetic Property Measurement System - 7T (2K a 400K)
- VSM - Vibrating Sample Magnetometer 7400
- VNA - Vector Network Analyzer - E8362C
- Amplified Ti:sapphire laser system operating 1 kHz and 800 nm
- Femtosecond OPA covering the range from 400 nm to 2600 nm
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- HP Analisador de perdas Óticas E5574A
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